Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
2024-08-19
01|檢測需求:掃描薄膜圓圈的高度差
02|檢測方式
客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差,根據觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進行測量
03|光譜共焦測量結果
薄膜圓圈的高度差輪廓
04|光譜共焦側頭
D40A30側頭相關參數
05|H系列控制器
H系列控制器相關參數
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